VIP Thành viên
Máy quang phổ huỳnh quang tia X phân tán năng lượng EDX8800 (loại chân không)
Giới thiệu đơn giản: Máy quang phổ huỳnh quang tia X phân tán năng lượng EDX8800 (loại chân không) Phạm vi phân tích nguyên tố từ natri (Na) đến urani
Chi tiết sản phẩm
Giới thiệu chi tiết:
Máy quang phổ huỳnh quang tia X phân tán năng lượng EDX8800 (loại chân không)
Tính năng sản phẩm
1. Sử dụng máy dò trôi silicon SDD nhập khẩu tiên tiến quốc tế (SILICON DRIFT DETECTOR), độ phân giải cao hơn, cải thiện đáng kể giới hạn phát hiện của các yếu tố nhẹ, giới hạn phát hiện tiêu chuẩn tăng 100 lần so với máy dò SI-PIN; Phạm vi đo rộng hơn, về cơ bản bao gồm các yêu cầu phân tích nguyên tố vật liệu thông thường khác nhau;
2. Cấu hình hệ thống xử lý tích hợp dữ liệu nhập khẩu ban đầu của Hoa Kỳ, tốc độ thu thập dữ liệu nhanh hơn, đo lường ổn định hơn, độ lặp lại và ổn định lâu dài tốt hơn;
3. Cấu hình phần mềm đo lường chuyên dụng mới được phát triển, tích hợp nhiều phương pháp tính toán đồ họa, dữ liệu đo chính xác hơn và ổn định hơn;
4. Phần mềm giám sát tình trạng hoạt động của các bộ phận cốt lõi chính của dụng cụ, sử dụng nhanh hơn;
5. Cấu hình hệ thống chân không được phát triển đặc biệt, hiệu suất chân không tốt hơn và hiệu quả kiểm tra tốt hơn;
Thông số kỹ thuật:
Phân tích nguyên tố từ natri (Na) đến uranium (U)
2. Phạm vi phân tích nội dung nguyên tố từ 1ppm đến 99,99%
3. Giới hạn phát hiện thấp: 1ppm
4. Thời gian đo: 60-200 giây (có thể điều chỉnh)
5. Công suất làm việc của dụng cụ: AC220 ± 5V
6. Độ phân giải năng lượng 129 ± 5eV
7. Dòng đầu ra lớn của ống tia X: 1mA
8. Áp suất giới hạn: 6,7 × 10-2Pa
9. Kích thước khoang mẫu: 610 * 320 * 100 (mm) (không hút chân không)/Φ100 * h75 (mm) (khoang mẫu chân không)
10. Lặp lại nhiều phép đo (tùy thuộc vào mẫu tiêu chuẩn): ± 0,05% (hàm lượng cao)/± 0,002% (dấu vết)
11. Ổn định làm việc lâu dài (tùy thuộc vào mẫu tiêu chuẩn) ± 0,06% (hàm lượng cao)/± 0,0025% (dấu vết)
Yêu cầu trực tuyến
